El dijous 11 d’abril es va tenir l’oportunitat d’escoltar la xerrada “Veure els àtoms de prop”, impartida pel Dr. Jaume Gázquez, investigador de l’ICMAB-CSIC i expert en microscòpia TEM (Transmission Electron Microscopy). Aquesta activitat va ser organitzada des de l’Àrea de Recerca i realitzada en el marc de l’assignatura de Ciència i Tecnologia de Materials (CiTeMat).

Durant la seva xerrada, el Dr. Gázquez va explicar els fonaments de la microscòpia TEM, millorada recentment gràcies a una adequada correcció de les aberracions, l’espectroscòpia EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy), i va mostrar nombrosos exemples de com aquestes tècniques han permès estudiar l’estructura, defectes i composició de diversos materials, en particular d’òxids i heteroestructures multifuncionals, amb potencials i aplicacions en electrònica.