El passat dimecres 21 de juny es va celebrar la segona reunió del Consell Empresarial Assessor de l’EUSS del curs 2016-2017. En aquesta ocasió es va demanar a les empreses que aportessin la seva opinió sobre el que s’ha d’incorporar als graus d’Enginyeria Electrònica Industrial i Automàtica, Mecànica i Organització Industrial. L’aportació serà de molta utilitat per realitzar el procés de revisió dels graus durant el curs 2017-2018.
Arxiu d'etiquetes: Món professional
#FIC17 un bon aparador de les indústries futures

Doctorat a Finlàndia un alumni EUSS


Seminaris sobre tecnologies que donen suport a la presa de decisions.
Durant el mes de maig i dins de l’assignatura de Sistemes d’Informació per a la Direcció, el professor César Latorre va convidar a professionals de l’àrea de Business Intelligence per impartir 4 seminaris sobre tecnologies que donen suport a la presa de decisions.
El primer d’ells sobre Data Warehouse (5 de maig), va ser el Dr. Jordi Conesa de la UOC qui va mostrar aquesta tecnologia que és el pilar de qualsevol Business Intelligence actual. El segon seminari (12 de maig), Julio Iglesias, director de Business Intelligence d’IFR, va parlar sobre què és Business Intelligence i les tecnologies que hi ha per darrere. El tercer seminari (19 de maig), Mineria de Dades, també va ser impartit per Julio Iglesias, mostrant exemples reals d’ús de la mineria de dades per part d’empreses de diferents sectors. Per acabar, Òscar Marín d’Outliers, a l’últim seminari (26 de maig) va parlar de què és “Big Data”, del repte que suposa la seva implantació, i de les tecnologies que hi ha darrere d’aquest paradigma.
Congrés IEEE I2MTC 2017
Durant els dies del 22 al 25 de maig d’enguany, el professor de l’EUSS Miquel Àngel Amer, va participar en el Congrés Internacional d’instrumentació, “2017 IEEE International Instrumentation and Measurement Tecnology Conference” que es va celebrar a Torí.
En Miquel Àngel Amer va presentar una comunicació en forma de pòster anomenada “Comparison between Sine Wave Fitting and Zero-Crossing Methods Applied to QCM Impedance Measurements”. En aquest treball s’explica un estudi comparatiu entre diversos algorismes per caracteritzar els paràmetres de senyals sinusoïdals, a fi i efecte de trobar aquell que ofereix millors prestacions tant pel que fa a l’exactitud dels resultats com pel que fa al temps de càlcul. Tot això amb la finalitat de poder emprar-los per determinar la impedància de sensors tipus QCM. Més informació del Congrés.